现代材料分析方法试题及答案

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1、现代材料分析方法试题3一、比较下列名词(每题3分,共15分)1.X射线和标识X射线,2.布拉格角和衍射角,3.静电透镜和磁透镜,4.原子核对电子的弹性散射和非弹性散射,5.热分析的热重法和热膨胀法二、填空(每空1分,共20分)1.X射线衍射方法有、、和。2.扫描仪的工作方式有和两种。3.在X射线衍射物相分析中,粉末衍射卡组是由委员会编制,称为卡片,又称为卡片。4.电磁透镜的像差有、、和。5.透射电子显微镜的结构分为系统、系统和系统。6.影响差热曲线的因素有、、和。三、回答下列问题(45分)1.X射线衍射分析可对无机非金属材料进行哪些分析、研究?(5分)2.在X射线衍射图中,确定衍

2、射峰位的方法有哪几种?各适用于什么情况?(7分)3.在电子显微分析中,电子的波长是由什么决定的?电子的波长与该因素的关系怎样?关系式?(3分)4.扫描电镜对试样有哪些要求?块状和粉末试样如何制备?试样表面镀导电膜的目的?(8分)5.在透射电子显微分析中,电子图像的衬度有哪几种?分别适用于哪种试样和成像方法?(5分)6.差热曲线中,如何确定吸热(放热)峰的起点和终点?起点和终点各代表什么意义?(5分)7.红外光谱分析主要用于哪几方面、哪些领域的研究和分析?红外光谱法有什么特点?(7分)8.光电子能谱分析的用途?可获得哪些信息?(5分)现代材料科学研究方法试题3答案一、比较下列名词(

3、每题3分,共15分)1.X射线和标识X射线:X射线:波长为0.01~1000Å之间的电磁波,(1分)标识X射线:只有当管电压超过一定的数值时才会产生,且波长与X射线管的管电压、管电流等工作条件无关,只决定于阳极材料,这种X射线称为标识X射线。(2分)2.布拉格角和衍射角:布拉格角:入射线与晶面间的交角,(1.5分)衍射角:入射线与衍射线的交角。(1.5分)3.静电透镜和磁透镜:静电透镜:产生旋转对称等电位面的电极装置即为静电透镜,(1.5分)磁透镜:产生旋转对称磁场的线圈装置称为磁透镜。(1.5分)4.原子核对电子的弹性散射和非弹性散射:弹性散射:电子散射后只改变方向而不损失能量

4、,(1.5分)非弹性散射:电子散射后既改变方向也损失能量。(1.5分)5.热分析的热重法和热膨胀法热重法:把试样置于程序控制的加热或冷却环境中,测定试样的质量变化对温度或时间作图的方法,(1.5分)热膨胀法:在程序控温环境中,测定试样尺寸变化对温度或时间作图的方法。(1.5分)二、填空(每空1分,共20分)1.X射线衍射方法有劳厄法、转晶法、粉晶法和衍射仪法。2.扫描仪的工作方式有连续扫描和步进扫描两种。3.在X射线衍射物相分析中,粉末衍射卡组是由粉末衍射标准联合委员会编制,称为JCPDS卡片,又称为PDF卡片。4.电磁透镜的像差有球差、色差、轴上像散和畸变。5.透射电子显微镜的

5、结构分为光学成像系统、真空系统和电气系统。6.影响差热曲线的因素有升温速度、粒度和颗粒形状、装填密度和压力和气氛。三、回答下列问题(45分)1.X射线衍射分析可对无机非金属材料进行哪些分析、研究?(5分)答:(1).物相分析:定性、定量(1分)(2).结构分析:a、b、c、α、β、γ、d(1分)(3).单晶分析:对称性、晶面取向—晶体加工、籽晶加工(1分)(4).测定相图、固溶度(1分)(5).测定晶粒大小、应力、应变等情况(1分)2.在X射线衍射图中,确定衍射峰位的方法有哪几种?各适用于什么情况?(7分)答:(1).峰顶法:适用于线形尖锐的情况。(1分)(2).切线法:适用于线

6、形顶部平坦,两侧直线性较好的情况。(1分)(3).半高宽中点法:适用于线形顶部平坦,两侧直线性不好的情况。(1分)(4).7/8高度法:适用于有重叠峰存在,但峰顶能明显分开的情况。(1分)(5).中点连线法:(1分)(6).抛物线拟合法:适用于衍射峰线形漫散及双峰难分离的情况。(1分)(7).重心法:干扰小,重复性好,但此法计算量大,宜配合计算机使用。(1分)3.在电子显微分析中,电子的波长是由什么决定的?电子的波长与该因素的关系怎样?关系式?(3分)答:电子的波长是由加速电压决定的,(1分)电子的波长与加速电压平方根成正比,(1分)λ=12.25V-1/2(1分)4.扫描电镜对

7、试样有哪些要求?块状和粉末试样如何制备?试样表面镀导电膜的目的?(8分)答:扫描电镜试样的要求:(1).试样大小要适合仪器专用样品座的尺寸,小的样品座为Ф30-35mm,大的样品座为Ф30-50mm,高度5-10mm。(1分)(2).含有水分的试样要先烘干。(1分)(3).有磁性的试样要先消磁。(1分)扫描电镜试样的制备:(1).块状试样:导电材料——用导电胶将试样粘在样品座上。(1分)不导电材料——用导电胶将试样粘在样品座上,镀导电膜。(1分)(2).粉末试样:将粉末试样用导电

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