时钟的抖动测量与分析

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1、时钟的抖动测量与分析时钟抖动的分类与定义 时钟抖动通常分为时间间隔误差（TimeIntervalError，简称TIE），周期抖动（PeriodJitter）和相邻周期抖动（cycletocyclejitter）三种抖动。TIE又称为phasejitter，是信号在电平转换时，其边沿与理想时间位置的偏移量。理想时间位置可以从待测试时钟中恢复，或来自于其他参考时钟。PeriodJitter是多个周期内对时钟周期的变化进行统计与测量的结果。Cycletocyclejitter是时钟相邻周期的周期差值进行统计与测量的结果。对于每一种时钟抖动进行统计和测量，可以得到其抖动

2、的峰峰值和RMS值（有效值），峰峰值是所有样本中的抖动的最大值减去最小值，而RMS值是所有样本统计后的标准偏差。如下图1为某100M时钟的TIE、PeriodJitter、CycletoCyclejitter的峰峰值和RMS值的计算方法。图1：三种时钟抖动的计算方法 时钟抖动的应用范围 在三种时钟抖动中，在不同的应用范围需要重点测量与分析某类时钟抖动。TIE抖动是最常用的抖动指标，在很多芯片的数据手册上通常都规定了时钟TIE抖动的要求。对于串行收发器的参考时钟，通常测量其TIE抖动。如下图2所示，在2.5Gbps的串行收发器芯片的发送端，参考时钟为100MHz，锁

3、相环25倍频到2.5GHz后，为Serializer（并行转串行电路）提供时钟。当参考时钟抖动减小时，TX输出的串行数据的抖动随之减小，因此，需要测量该参考时钟的TIE抖动。另外，用于射频电路的时钟通常也需测量其TIE抖动（相位抖动）。 在并行总线系统中，通常重点关注periodjitter和cycletocyclejitter。比如在共同时钟总线（commonclockbus）中（如图3所示），完整的数据传输需要两个时钟脉冲，第一个脉冲用于把数据锁存到发送芯片的IOBuffer，第二个脉冲将数据锁存到接收芯片中，在一个时钟周期内让数据从发送端传送到接收端，当发送

4、端到接收端传输延迟（flighttime）过大时，数据的建立时间不够，传输延迟过小时，数据的保持时间不够；同理，当这一个时钟的周期值偏大时，保持时间不够；周期值偏小时，建立时间不够。可见，时钟周期的变化直接影响建立保持时间，需要测量periodjitter和cycletocyclejitter。关于共同时钟总线的时序分析的详细讲解，请参考StephenH.Hall、GarrettW.Hall和JamesA.McCall写的信号完整性分析书籍：《High-SpeedDigitalSystemDesign》。 另外一种常见的并行电路－源同步总线（SourceSynch

5、ronousbus），通常也重点测量periodjitter和cycletocyclejitter。比如DDR2就属于源同步总线，在IntelDDR2667/800JEDECSpecificationAddendum规范中定义了时钟的抖动测试包括周期抖动和相邻周期抖动，分别如表格1中tJIT(per)和tJIT(cc)，此外，还需要测量N-Cyclejitter，即N个周期的相邻周期抖动，比如表格1中tERR(2per)是连续2个周期的周期值与下2个周期的周期值的时间差，tERR(3per)是3个周期组合的相邻周期抖动，依此类推。表1：DDR2-667/800的时

6、钟抖动要求 时钟抖动的来源和分解 时钟的抖动可以分为随机抖动（RandomJitter，简称Rj）和固有抖动（Deterministicjitter），随机抖动的来源为热噪声、ShotNoise和FlickNoise，与电子器件和半导体器件的电子和空穴特性有关，比如ECL工艺的PLL比TTL和CMOS工艺的PLL有更小的随机抖动；固定抖动的来源为：开关电源噪声、串扰、电磁干扰等等，与电路的设计有关，可以通过优化设计来改善，比如选择合适的电源滤波方案、合理的PCB布局和布线。和串行数据的抖动分解很相似，时钟的抖动可以分为Dj和Rj。但不同的是，时钟的固有抖动中通常只

7、有周期性抖动（Pj），不包括码间干扰（ISI）。当时钟的上下边沿都用来锁存数据时占空比时钟（DCD）计入固有抖动，否则不算固有抖动。 时钟抖动测量方法 在上个世纪90年代，抖动的测量方法非常简单,示波器触发到时钟的一个上升沿，使用余辉模式，测量下一个上升沿余辉在判定电平上（通常为幅度的50％）的水平宽度。测量水平宽度有两种方法。第一种使用游标测量波形边沿余辉的宽度，如下图4所示。由于像素偏差或屏幕分辨率(量化误差)会降低精度，而且引入了触发抖动，所以这种方法误差较大。图4：使用模拟余辉加游标来测量抖动第二种使用直方图，对边沿余辉的水平方向进行直方图统计，如下图5所

8、示。测量直