材料测试与表征仪器设备介绍

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1、材料测试与表征仪器设备介绍分析测试中心材料测试组联系人：马志Tel:45388Office:3＃-218室Email：mazhi728@mailsiocaccnmazhi728@mail.sioc.ac.cn分子结构与聚集态结构(XRD、DSC、GPC)(药物、有机和无机材料、纳米材料等)热性能材料测试表面与界面(TGA、DSC、PDSC、DMA)(SPM、SEM、PLM)(药物、有机和无机材料、纳米材料等)与表征(生物、有机和无机材料、纳米材料等)力学、流变性能(万能材料试验机、落锤冲击试验机、转矩流变仪)(有机材料、无机材料、纳米材料

2、等)材料测试与表征仪器设备仪器型号生产商粉末X射线衍射仪X’PertProPanalytical扫描探针显微镜(AFM/STM)NanoScopeIVa-MultimodeVeecoCo.扫描电子显微镜JSM6390LVJeol热台偏光显微镜Olympus/LinkamOlympus/Linkam差示扫描量热仪Pyris1PerkinElmer压力差示扫描量热仪Q10PTA热失重分析仪Q500TA动态机械分析仪Q800TA凝胶渗透色谱仪(THF为淋洗剂)1515Waters凝胶渗透色谱仪(DMF为淋洗剂)515Waters高效液相色谱仪5

3、15Waters万能材料试验机5867Instron落锤冲击试验机8200Instron转矩流变仪(双螺杆挤出机＋微型注塑制样机)）PolylabOSHaake粉末X射线衍射仪XRD(X’PertProMPD,PanalyticalCo.)应用于药物、有机材料、无机材料、复合材料、纳米材料等领域，研究多晶型、晶体尺寸、取向度、结晶度、物相结构、介孔结构分析等。X’PertPROX射线衍射仪是全新概念的预校准光路全模块化的X射线衍射仪可实现多种功能应用。不同光路系统及各种样品台等附件均可以在几分钟内实现高精度的更换。测角仪由于采用DOPS直

4、接光学编码器，直流马达驱动，完全消除机械误差，精度与稳定性大大提高。配备多种新型光路及样品台模块：入射光有可编程发散狭缝、Hybird(平行光单色器)提高光源的利用效率；衍射光路有可编程防反射狭缝、可编程接收狭缝、X’celerator探测器(新型高效能探测器)、高低温模块，通过配置不同的光学模块和样品台，可满足由普通相分析到薄膜测定，高分辨分析，微区测定，应力，织构，非环境下动态研究，微量相测定等不同领域要求。技术参数1.测角仪精度：0.0001度2.测角仪重现性：0.0001度凝胶渗透色谱仪GPC(W(Waters15151515TH

5、F/DMF),THF/DMF)应用于高分子材料的分子量(该GPC测量范围2000~4,000,000g/mol）及其分布、共聚物组成、聚合物的支化和长链支化分布测定，以及农药残留分析等领域。扫描电子显微镜(SEM)(JSM-6390LV)扫描电镜主要应用于各种材料的形貌、组织观察，包括：有机材料、非均相催化剂材料、高分子材料、生物材料、无机材料、金属材料和各种复合材料等。主要特点及技术参数：全数字化控制系统，高分辨率、高精度的变焦聚光镜系统，高真空模式可达3.0nm，低真空模式可达4.0nm，放大倍数×5～×300,000加速电压0.5k

6、V至30kV，既保证高电压下的高分辨率，也可提供低电压下高质量的图像。全自动真空控制系统，高、低真空切换，低真空度1to270Pa，低真空模式下可以观察到高真空下无法观察的含水样品或非导体样品全自动电子枪，高灵敏度半导体背散射探头SmileShot™软件保证得到最佳电子光学参数，简易的图像分析及输出扫描探针显微镜SPM(NanoscopeIVa-Multimode,VeecoCo.)应用领域仪器性能参数可用于聚合物、生物、胶体、无机膜x,y方向最大扫描范围100mm,材料、自组装材料等的表面原子、分子z方向最大扫描范围5mm形貌及电子结构

7、研究。最高分辨率：z方向0.1nm；x,y方向1nm热台偏光显微镜(PLM)(OlympusBX51万能研究级正置显微镜/LinkamLTS350型冷热台)用于观察高分子、聚合物、化合物、液晶分子、纤维材料等样品的熔点、相变、形态、晶格变化、结晶动力学研究等。仪器性能参数温度范围：-196℃to350℃温度稳定性和准确度：<010.1℃样品载片面积：38mmx62mm最大的加热/冷却速率：30℃/minX、Y轴标准操作距离：15mm、15mm反馈时间：<1second(5℃/min,50℃)标准样品固定器：76x26mm显微镜载玻片物镜最

8、小工作距离：6mm气密的样品室：适合观察样品时的气氛控制带冷凝器镜头最小工作距离：13.2mm示差扫描量热仪(DSC)(PkiEl(PerkinElmerCPi1Co.Pyris1))研究有机