GBT19421.1-03层状结晶二硅酸钠试验方法δ相层状结晶二硅酸钠定性分析X射线衍射仪法

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1、GB/T19421.1-2003前言GB/T19421《层状结晶二硅酸钠试验方法》分为12个部分:—GB/T19421.18相层状结晶二硅酸钠定性分析X射线衍射仪法;—GB/T19421.2白度的测定;—GB/T19421.3pH值的测定;—GB/T19421.4EDTA容量法测定钙交换能力;—GB/T19421.5EDTA容量法测定镁交换能力;—GB/T19421.6重量法测定灼烧失量;-GB/T19421.7重量法测定湿存水量;—GB/T19421.8邻菲罗琳比色法测定三氧化二铁含量;—GB/T19421.9容量法测定氧化钠含量;—GB/T19421.10氟

2、硅酸钾容量法测定二氧化硅含量;—GB/T19421.11原子吸收分光光度法测定氧化钙含量;—GB/T19421.12原子吸收分光光度法测定氧化镁含量。本部分为GB/T19421的第1部分。本部分的附录A是资料性附录。本部分由中国轻工业联合会提出。本部分由全国表面活性剂洗涤用品标准化中心归口。本部分起草单位:山东铝业股份有限公司研究院、中国日用化学工业研究院。本部分主要起草人:王云霞、苏献瑞。GB/T19421.1-2003层状结晶二硅酸钠试验方法6相层状结晶二硅酸钠定性分析X射线衍射仪法范围GB/T19421的本部分规定了层状结晶二硅酸钠中X射线衍射仪法定性分析

3、S相层状结晶二硅酸钠的方法。本部分适用于层状结晶二硅酸钠中s相层状结晶二硅酸钠的定性分析。2原理任何一种晶体物质，都具有特定的结构参数，在给定波长的x射线辐射下，呈现出该物质特有的多晶体衍射谱图。各相的衍射谱图表明了该相中各元素的化学结合状态，根据多晶体衍射谱图与晶体物质这种独有的对应关系，便可将待测物质的衍射数据与各种已知物质的衍射数据对比，借以对物相做定性分析仪器普通实验室仪器和3.1X射线衍射仪。3.2玛瑙研钵3.3制样装置。4试验程序4.1试样制备称取约2g试样，于洁净干燥的玛瑙研钵中研磨至5f}m以下，以用手捻搓无颗粒感即可。将研磨好的样品放人样品架内

4、，填实后轻压制片，压力以样片竖起不塌落为宜。4.2测定打开设备冷却系统，开启X射线衍射仪，预热30min。启动X射线衍射仪测控系统，对衍射仪进行基准校正。在CuK。辐射下，对试样(4.1)在20为100-500的范围内进行扫描测量。4.3数据处理使用数据处理程序，得出样品的X射线衍射谱图，在衍射峰位上标明晶面间距(d值)。将得到的d值与表1中的d值对比，凡符合表1中数据的即为S相层状结晶二硅酸钠的衍射线，否则即为其他杂相。当样品中S相层状结晶二硅酸钠含量较低时，弱线可能不显示，由三条主强线即可确定有无S相层状结晶二硅酸钠的存在。GB/T19421.1-2003表

5、1S相层状结晶二硅酸钠X射线衍射数据编号d(A)相对强度一编号d(A)相对强度编号d(A)相对强度16.88士0.10非常弱}2.90士0.05非常弱213.01士0.05弱26.02士0.10弱一2.84士0.05弱222.09士0.03弱34.89士0.10弱一2.72士0.05非常弱}2.06士0.03非常弱44.49士0.10非常弱}2.56士0.05非常弱}2.01士0.03非常弱54.19士0.10弱}2.54士0.05非常弱}1.98士0.02非常弱63.95士0.08强}2.49士0.03弱}1.92士0.02非常弱73.78士0.08中一2.4

6、2士0.03中}1.89士0.02非常弱83.62士0.07弱」2.37士0.03非常弱一1.86士0.02非常弱93.44士0.07非常弱12.29士0.03非常弱291.83士0.02非常弱103.09士0.05非常弱一2.25士0.03非常弱注:强(80%一100%的相对强度);中(30%-80月的相对强度);弱(10%"30%的相对强度);非常弱(低于10%的相对强度)。GB/T19421.1-2003附录A(资料性附录)6相层状结晶二硅酸钠X射线衍射谱图60001因的口门侣5000哪4000人8卜。门趁`aU'3000︸E

7、.目的.L的民门2000.g

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