10月13-14日《电子产品可靠性设计试验与故障分析技术》

10月13-14日《电子产品可靠性设计试验与故障分析技术》

ID:41928077

大小:44.00 KB

页数:3页

时间:2019-09-04

10月13-14日《电子产品可靠性设计试验与故障分析技术》_第1页
10月13-14日《电子产品可靠性设计试验与故障分析技术》_第2页
10月13-14日《电子产品可靠性设计试验与故障分析技术》_第3页
资源描述:

《10月13-14日《电子产品可靠性设计试验与故障分析技术》》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在工程资料-天天文库

1、电子产品可靠性设计/试验与故障分析技术2012年10月13-14H星期六-日广州课程目标:帮助工程设计、试验和管理人员明确可靠性设计的目的并掌握可靠性设计和试验方法学习对象:系统总质量师、研发主管、产品质量师、设计师、工艺师、研究员,质量可靠性管理和从事电子元器件(包拆集成电路)失效分析工程师讲师介绍:张增照老师中国赛宝实验室(T■业和信息化部电子第五研究所)高级.T■程师时代光华教育集团特聘培训师,中国电子可靠性协会特聘高级培训师,中国可靠性实战知名专家,窩级工程师,获硕士学位。曾在深圳某通信公司从爭产品设计,曾主持

2、低频治疗仪、通信机、日立电梯对讲系统的设计。具有丰富的硬件设计经验。1994邀请加入中国最权威的可靠性试验室,从事电子产品测试、试验和可靠性技术研究等领域的学术带头工作。在此试验室一玄从事电子元器件和设备的可靠性工作。负责了五个国家重点工程的可靠性工作,开展电了设备町靠性预计、可靠性设计、可靠性分析等工作,主持了GJB/Z299《电了•设备可靠性预计手册》关键技术研究,并相继发布了A、B版。编写了《可靠性建模与分配》,《可靠性预计技术》、《可靠性设计技术》、《故障模式、效应及危害性分析(FMECA)》、《故障树分析(F

3、TA)》、《工程用元器件质量管理》等冇创新性的培训课题。张老师是《以可靠性为中心的质量设计、分析和控制》一书的作者,是GJB/Z299《电子设备可靠预计手册》、GB/T7829《故障树分析(FTA)》等标准的制订负责人。张老师具冇小国质量丁程师培训执教资格,是《环境试验》《电子产品可靠性与其试验》编委。张老师具有丰富的产品设计经验和产品测试实践以及深厚的可靠性理论基础。曾为地铁2号线电源系统及科利公司完成可靠性、维修性设计建议书,为康佳、TCL、美的、科龙、电子36所、34所、54所、44所、26所进行过町靠性内训授课

4、和咨询;为我国电子行业技术人员迹行了近百次公开可靠性设计、可靠性预计、3F方法、元器件优选等方面的技术培训。应邀赴韩国参加韩国信赖性学会成立大会,并代农中国专家在大会演讲。课程大纲:一、客户要求的可靠性指标分解方法案例:要求累枳故障率的情况案例:要求年维修率的指标分析二、可靠性设计1.可靠性设计的思路、设计失败的案例2.某型计算机可靠性设计缺陷分析3.降额设计4.容差分析案例:振荡器最坏情况分析法5.边缘性能设计、案例6.储备(冗余)设计7.潜在通路分析案例:潜在通路:案例:潜在时间;案例:潜在标志;案例:潜在指示;7

5、.电子产品热设计a温度对电子设备可靠性的影响b电子设备热的來源c热设计的目的d热设计的程序e热设计中元器件布局案例f热设计中元器件的安装原则、安装失误案例g鼓风机的选择与安装h冷却剂流道设计i改善热设计的方法及案例案例:密封电子设备案例:机载电子设备8.防闩锁设计a闩锁的來源b闩锁的预防9.案例:可维护性设计10.软件可靠设计技巧、软件可靠设计案例11.ESD防护aESD损失案例bESD防护的实施三、可靠性试验1•可靠性试验及其分类2.可靠性测定试验点估计、区间估计3.可靠性鉴定试验a试验人纲b试验条件c试验样品d一次

6、抽样检验方案的基本原理e序贯截尾试验方案f案例分析1.高加速寿命试验(HALT)与高加速应力筛选(HASS)aHALT和IIASS的概念与应用范用b高加速的基木原理cIIALT/I1ASS试验过程及方法d开展HALT和I1ASS的几点看法2.加速寿命实验a寿命试验的分类b寿命试验的测试点c寿命试验的数据处理d加速寿命试验的理论依据e加速应力的选择f样品数量的选择g激活能的计算h双应力加速实验法6•可靠性实验案例介绍案例:已知克信度和MTBF时的实验测定案例:已知置佶度和可靠度时的实验测定案例:案例加速寿命实验测定法案例

7、:可靠性鉴定实验四、故障模式、影响及危害度分析(FHEA)1.FMEA的意义和作用、运载火箭的案例分析2.FMEA的分类(系统FMEA、设计FMEA和工艺FMEA)FMEA的实施步骤3.FMECA的标准方法4.报警器的FMEA分析案例5.QS9000和16949的FMEA方法6.分析案例7.影响FMECA工作效果的因素五、电了元器件的选用控制1.元器件的质量等级2.DPA与失效分析技术3.半导体器件质量的鉴别六、电子元器件的主要失效模式与预防1.半导休器件的主要失效模式与预防2.集成电路的主要失效模式与预防3.阻容元件

8、的卞要失效模式与预防4.继电器的主要失效模式与预防5.其他元器件的上要失效模式与预防课程主办:北京时代光华教育集团广州中科光华中国赛宝实验室课程时间:2012年10月13-14日(星期六-日9:00-16:30)席位有限,报满即止。课程费用:二八零零元/人,凡购买学习卡会员企业凭6张学习门票入场。填好下表后传真至020-28373

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。