荧光X射线仪.ppt

荧光X射线仪.ppt

ID:49633523

大小:2.55 MB

页数:18页

时间:2020-02-26

荧光X射线仪.ppt_第1页
荧光X射线仪.ppt_第2页
荧光X射线仪.ppt_第3页
荧光X射线仪.ppt_第4页
荧光X射线仪.ppt_第5页
资源描述:

《荧光X射线仪.ppt》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库

1、x-射线荧光分析2021/9/252021/9/252021/9/252021/9/25一、X-射线荧光的产生creationofX-rayfluorescence特征X射线荧光--特征X射线光谱碰撞内层电子跃迁↑H空穴外层电子跃迁↓LX射线荧光X射线荧光>次级X射线(能量小)(能量大)激发过程能量稍许损失;依据发射的X射线荧光,确定待测元素——定性X射线荧光强度——定量2021/9/25Auger效应Auger电子:次级光电子各元素的Auger电子能量固定;(电子能谱分析法的基础)碰撞内层电子跃迁↑H空穴外层电子跃迁↓L原子内吸收另一电子激发Auger效应荧光辐射竞争几率电子能谱分析

2、自由电子Z<11的元素;重元素的外层空穴;重元素内层空穴;K,L层;2021/9/25Moseley定律元素的荧光X射线的波长()随元素的原子序数(Z)增加,有规律地向短波方向移动。K,S常数,随谱系(L,K,M,N)而定。定性分析的数学基础;测定试样的X射线荧光光谱,确定各峰代表的元素。2021/9/25二、X射线荧光光谱仪X-rayfluorescencespectrometer波长色散型:晶体分光能量色散型:高分辨半导体探测器分光1.波长色散型X射线荧光光谱仪四部分:X光源;分光晶体;检测器;记录显示;按Bragg方程进行色散;测量第一级光谱n=1;检测器角度2;分光晶体与检测器同

3、步转动进行扫描。2021/9/25晶体分光型X射线荧光光谱仪扫描图分光晶体与检测器同步转动进行扫描。2021/9/25(1)X射线管(光源)分析重元素:钨靶分析轻元素:铬靶靶材的原子序数越大,X光管压越高,连续谱强度越大。2021/9/25(2)晶体分光器晶体色散作用;=2dsin平面晶体分光器弯面晶体分光器2021/9/25(3)检测器正比计数器(充气型):工作气Ar;抑制气甲烷利用X射线使气体电离的作用,辐射能转化电能;脉冲信号闪烁计数器:瞬间发光—光电倍增管;半导体计数器:下图2021/9/25(4)记录显示记录显示:放大器、脉冲高度分析器、显示;三种检测器给出脉冲信号;脉冲高度分

4、析器:分离次级衍射线,杂质线,散射线2021/9/252.能量色散型X射线荧光光谱仪采用半导体检测器;多道脉冲分析器(1000多道);直接测量试样产生的X射线能量;无分光系统,仪器紧凑,灵敏度高出2~3个数量级;无高次衍射干扰;同时测定多种元素;适合现场快速分析;检测器在低温(液氮)下保存使用,连续光谱构成的背景较大;2021/9/25能量色散型X射线荧光光谱图2021/9/25能量色散型X射线荧光光谱图2021/9/25三、应用applications1.定性分析波长与元素序数间的关系;特征谱线;查表:谱线—2表;例:以LiF(200)作为分光晶体,在2=44.59处有一强峰,谱线—2

5、表显示为:Ir(K),故试样中含Ir;(1)每种元素具有一系列波长、强度比确定的谱线;Mo(Z42)的K系谱线K1、K2、K1、K2、K3强度比100、50、14、5、7(2)不同元素的同名谱线,其波长随原子序数增加而减小Fe(Z=26)Cu(Z=29)Ag(Z=49)K1:1.9361.5400.559埃(A)2021/9/252.定量分析谱线强度与含量成正比;(1)标准曲线法(2)增量法(3)内标法3.应用可测原子序数5~92的元素,可多元素同时测定;特点:(1)特征性强,内层电子跃迁,谱线简单(2)无损分析方法,各种形状试样,薄层分析(3)线性范围广,微量—常量,(PP

6、M-100%)缺点:灵敏度低(>0.0X%);2021/9/25

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。