实验一-集成逻辑门电路(TTL和CMOS)的参数测试.doc

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1、实验一集成逻辑门电路（TTL和CMOS）的参数测试一、实验目的1、掌握TTL和CMOS与非门主要参数的意义及测试方法。2、熟悉数字逻辑实验箱的基本功能和使用方法。二、实验仪器及设备1、数字逻辑实验台2、万用表2只3、元器件：74LS20（T063）、CC4012各一块，2CK114只4、电阻及导线若干三、实验内容（简单实验步骤、实验数据及波形）图1-1图1-21、TTL与非门74LS20静态参数测试导通电源电流ICCL和截止电源电流ICCH。测试电路如图1-1。74LS20为双与非门，两个门的输入

2、端作相同处理。测得ICCL=12mA，ICCH=1.6mA低电平输入电流IiL和高电平输入电流IiH。每一门和每一输入端都测试一次。测试电路如图2-2。参数1A1B1C1D2A2B2C2DIiL(mA)1.11.21.11.01.01.11.11.0IiH(uA)9999109982、电压传输特性。调节电位器RW，使Vi从0V向5V变化，逐点测试Vi和VO值，将结果记录入下表中。测试电路如图1-3。图1-3Vi0.30.511.21.31.351.41.451.51.61.72.43.6Vo3.6

3、3.632.72.42.11.61.31.00.70.30.30.33、CMOS双四输入与非门CC4012静态参数测试将CC4012正确插入面包板，测电压传输特性。测试电路和方法同上，输出端为空载测量。将结果记录入下表中。Vi00.5122.32.42.452.52.552.62.734.55Vo55555555000000实验结果分析（回答问题）1、测量TTL与非门输出低电平时要加负载，因为要求集成块有一定带负载的能力，而TTL与非门输出低电平时会有较大负载电流。图2-3中R选用360Ω是根据最

4、大允许负载电流为：扇出系数（8）×低电平输入电流IiL（1.6mA）得到的。若R很小会使负载电流过大，无法得到正常的输出低电平。2、与非门输入端悬空可以当作输入为“1”，因为悬空相当于Ri=∞，由输入端负载特性可得此结论。3、TTL或非门闲置输入端的处置方法：与其它输入端并联；接地。4、实验中所得ICCL和ICCH为整个器件值，单个门电路的ICCL和ICCH为所测值的一半。5、CC4012的VDD=15V，则其VOH=14.95V、VOL=0.05V、VTH=7.5V。重点讲解组合逻辑电路的实验分

5、析的方法与步骤及在实验设备中如何去实现。