电脑机箱检验标准.docx

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1、新中力电子科技有限公司文件编号STW-WI-PZ-009版本A.0制作部门品质部生效日期2017-1-7机箱检验规范编制审核审批是否需要会签：□需会签□不需会签会签部门会签人文件发放范围分发部门品质部分发份数文件变更记录版本主要变更内容编写人/修订人修订日期1、目的：为订定本公司机箱质量检验之判定，以提供检验时之依据，特订本规范。2、适用范围：此规范适用于本公司供应厂商所提供之机箱原物料、制程到成品出货检验，若客户有另外提供检验标准，则以客户标准为准。3、权责单位：3.1.研发部研发部负责机构部件之承认及相关规格文件发行。3.2.品保部3.2.1.品保部门负责此标准之维护及执行。3.2.2

2、.品检员依据研发所发行之承认书及本检验标准进行检验。3.3.采购部采购部门依据合格供货商向供货商采购合乎要求之原物料。4、缺点定义：1.严重缺点(Criticaldefect):简写CR。凡有危害零/组件的用户或携带者之生命或安全之缺点谓之；产品与订单规格不符。2.主要缺点(Majordefect):简写MA。零/组件的使用性能不能达到所期望之目的，或显著的减低其实用性质的缺点谓之。3.次要缺点(Minordefect):简写MI。实际上不影响零/组件之使用目的之缺点谓之。5、区域定义：位置定义说明A面产品面向用户的部位产品前面板、顶部及指定面B面产品面向用户的两旁产品两侧面及指定面C面产

3、品面向用户不易看到的下方部位产品后背板、底部及指定面D面产品用户无法看到的部位产品内部及指定面6、检验条件：6.1.目视：6.1.1.检验环境亮度需求:500~600LUX烛光的冷白荧白光灯。6.1.2.检验距离:40±5cm。6.1.3.检验人员视力要求;0.8。(裸视或经矫正后的视力)6.1.4.内/外观检验时间:8-10秒。6.1.5.检验角度:45-60度角。6.2.量测工具：6.2.1.卡尺。6.2.2.高度规。6.2.3.厚薄规。6.2.4.牙规。6.2.5.色差机。6.2.6.杂质判定表。6.2.7.样品。6.2.8.百格刀。6.2.9.3M胶带。7、抽样计划：依据MIL-S

4、TD-105E单次抽样计划LEVELⅡ检验标准进行各项检验，允收标准MIL-STD-105ELEVELⅡAQL：MA=0.65MI=2.5。8、检验标准：8.1.金属部分检验标准：项次检验项目检验规格及允收水平检测工具判定区域允许范围CRMAMI1刮伤W≦0.1mmA面不可有杂质判定表、卡尺*B面L≦5mm，≦1个，但不可漏底材杂质判定表、卡尺*C面L≦10mm，S≧150mm，≦2个，但不可漏底材杂质判定表、卡尺*2刮痕W≦0.1mmA面L≦2mm，S≧150mm，≦2个杂质判定表、卡尺*B面L≦10mm，S≧150mm，≦3个杂质判定表、卡尺*C面L≦15mm，S≧100mm，≦3个杂

5、质判定表、卡尺*3磨伤/擦伤W≦2mmA面不可有杂质判定表、卡尺*B面L≦5mm，S≧150mm，≦2个杂质判定表、卡尺*C面L≦10mm，S≧100mm，≦2个杂质判定表、卡尺*4异物A面A≦0.3mm2，S≧40mm，≦2个杂质判定表、卡尺*B面A≦0.5mm2，S≧40mm，≦5个A≦0.15mm2，S≦20mm，≦2个不列入不良点数，但同一面不良点数＞4个列入计算杂质判定表、卡尺*C面A≦0.5mm2，S≧40mm，≦5个A≦0.2mm2，S≦20mm，≦2个不列入不良点数，但同一面不良点数＞10个列入计算杂质判定表、卡尺*5凹陷脏污原材污点A面不可有杂质判定表、卡尺*B、C、D面

6、A≦0.5mm2，D≦0.50mm，S≧100mm，不超过3个杂质判定表、卡尺*6咬花与样品或标准色板对比无明显差别。样品色板*7色差与色版或样品颜色差异＜1.0度；特殊颜色依据承认之色版数据为主色版、色差机*8溢漆仅允许喷点状溢出于D面内部溢漆不可超过边缘≦50mm。防烤直线不倾斜≦2mm目视、卡尺*9变形机箱表面变形直径小于1.0mm，机型正面放置时承受50kg压力不变形；目视*8.2.铁件烤漆部分检验标准：项次检验项目检验规格及允收水平检测工具判定区域允许范围CRMAMI1刮伤W≦0.1mmA面不可有杂质判定表、卡尺*B面L≦5mm，≦1个，但不可漏底材杂质判定表、卡尺*C面L≦10

7、mm，S≧150mm，≦2个，但不可漏底材杂质判定表、卡尺*2刮痕W≦0.1mmA面L≦2mm，S≧150mm，≦2个杂质判定表、卡尺*B面L≦10mm，S≧150mm，≦3个杂质判定表、卡尺*C面L≦15mm，S≧100mm，≦3个杂质判定表、卡尺*3磨伤/擦伤W≦2mmA面不可有杂质判定表、卡尺*B面L≦5mm，S≧150mm，≦2个杂质判定表、卡尺*C面L≦10mm，S≧100mm，≦2个杂质判定表、卡尺*4异物A