电感耦合高频等离子体原子发射光谱分析(icp—aes)

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时间:2018-01-11

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1、电感耦合高频等离子体原子发射光谱分析(ICP—AES)本章要求:电感耦合高频等离子体原子发射光谱法是以电感耦合等离子焰炬为激光源的一类新型光谱分析方法(InductivelyCoupledPlasma—AtomicEmissionSpectrometry,简称ICP—AES)。由于该法具有检出限较低、准确度及精密度高、分析速度快和线性范围宽等许多独特的优点,因此在国外ICP—AES法已发展成为一种极为普遍、适用范围极广的常规分析方法,并广泛用于环境试样、岩石矿物、生物医学以及金属与合金中数十种元素的分析测定。在国内ICP—AES法的研究工作始于1974年,现已有上千个科研单位、大专院校、工厂以

2、及环境监测等部门拥有了此种分析手段,ICP—AES法已成为近年来我国分析测试领域中发展最快的测试方法之一。为了使这种新型分析技术在环境监测中得到普及,环境监测人员必须对ICP—AES法有所了解,在学习中应掌握以下几方面的知识。1、电感耦合等离子体(ICP)光谱技术的发展概况。2、ICP光源的理论基础。3、ICP所用的高频电源。4、ICP所需的进样装置。5、ICP炬管及工作气体。6、ICP仪器的分光、测光装置。7、ICP-AES法的分析技术。8、ICP-AES法的应用。9、有机试液的ICP光谱分析。10、ICP-AES法和其他分析技术的比较。参考文献1、光谱学与光谱分析编辑部,《ICP光谱分析应

3、用技术》,1982年,北京大学出版社。2、蔡德,《光谱分析辞典》,1987年,光谱实验室编辑部。3、陈新坤,《电感耦合等离子体光谱法原理和应用》,1987年,南开大学出版社。4、不破敬一郎,《ICP发射光谱分析》,1987年,化学工业出版社。5、辛仁轩,《电感耦合等离子体光源—原理、装置和应用》,1984年,光谱实验室编辑部。6、《分析技术辞典,发射光谱分析》,1980年,科学出版社。101、高铮德,《光谱分析常识》,1985年,光谱实验室编辑部。2、[美]AkbarMontaserandD.W.Golightly,陈隆懋等译,《电感耦合等离子体在原子光谱分析法中的应用》,1992年,人民卫生

4、出版社。3、魏复盛等,《原子吸收光谱及其在环境分析中的应用》,1988年,中国环境科学出版社。4、《高频电感耦合等离子光源光谱分析》,1982年,地质出版社。5、魏复盛等编,《水和废水监测分析方法指南》(中册),1994年,中国环境科学出版社。6、魏复盛等编,《水和废水监测分析方法指南》(下册),1997年,中国环境科学出版社。一、填空题(共10题)1、ICP—AES法的主要优点是、、、。答:检出限低精密度与准确度高线性范围宽同时或顺序测定多元素2、目前商品ICP光谱仪的主要类型有、、、、。答:ICP摄谱仪ICP光亮计M+1型ICP光谱仪顺序扫描型光谱仪n+m型ICP光谱仪3、影响ICP—AE

5、S法分析特性的三个重要因素是、、。答:高频功率观测高度载气流量4、形成稳定的ICP放电所必须具备的三个条件是、、。答:高频电磁场工作气体等离子体炬管5、高频发生器(又称射频功率发生器)按照工作原理可分为、两种。答:自激式他激式6、ICP—AES法存在的主要干扰有、、、、。答:物理干扰光谱干扰化学干扰电离干扰去溶干扰107、由于高频发生器工作时会产生、、、、,所以必须注意安全防护。答:高频电磁场紫外辐射有害气体噪声可能引起高频触电8、ICP—AES法的进样方法主要分为、、三种方式。答:液体进样气体挥发进样固体进样9、ICP光谱法非发射技术主要有、、、。答:ICP—MSICP—AFSICP—AAS

6、ICP—LE1S#(#激光增强电离光谱法)10、目前ICP较典型的联用技术主要有、、、、、。答:GC-ICP-AESGC-ICP-MSHPLC-ICP-AESHPLC-ICP-MSSFC##-ICP-AESSFC-ICP-MS(##超临界流体色谱)二、问答题(共41题)1、什么叫发射光谱?答:物质受激发而发射光所形成的光谱,统称发射光谱。蔡德,《光谱分析辞典》,P93。2、发射光谱通常分为几种?答:分为三种。(1)由灼热的固体所产生的连续光谱。(2)由分子的被激发而发射的带光谱。(3)由原子或离子的被激发而发射的线光谱。《分析技术辞典发射光谱分析》,科学出版社,P2。3、什么是发射光谱分析?答

7、:利用试样中原子或离子所发射的特征光谱(原子发射光谱)或某些分子或基团所发射的特征带光谱(分子发射光谱)的波长或强度来检测元素的存在和它们的含量,叫发射光谱分析。10《分析技术辞典发射光谱分析》,科学出版社,P3。1、试述发射光谱分析的主要过程。答:(1)将试样转变成气态并激发使之发光。(2)把产生的光辐射,用棱镜、光栅等分光仪器分解成光谱。(3)检定光谱中元素的特征谱线的存在与否或测量其强度,就

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