千分尺检定、校准作业指导书

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1、确保公司所使用的千分尺符合测产品的要求，保证千分尺精度，使千分尺的误差在规定范围內。本公司所使用的千分尺皆适用。3校验标准件(mm)量块5.12-100(0-300删)刀口尺75平行平晶15.37-95.87(0-100mm)4校验条件温度20±5°C湿度60%±20%5检验步骤5.1外观检定：千分尺外观应无锈蚀，刻线和数字必须淸晰。后续检定和使用屮检定的千分尺及其校对杆不应有影响使用准确度的外观缺陷。5.2千分尺各部分相互作用.•微分简转动和测微螺杆的移动必须平稳，无卡滞现象，锁紧装賈必须可靠。5.3测微螺杆的轴向窜动和径向摆动：一般情况下用手感检查测微螺杆的轴向窜动和径向摆动。5

2、.4测力用分度值不大于0.2N的专用测力计检定，一般听棘轮的声音可分辨出。5.3微分筒锥面的端面现固定套管毫米刻线的相对位置检定：当测铽下限调整正确后，使微分筒固定套管任意毫米刻线的右边缘相切，读取微分筒的零刻线与固定套管纵图1后续检定和使川中的检定可用刀口尺用光隙法检定，在距离测量面边缘0.4mm范围内的平面度忽略不计■文件编号版本页数文件名称千分尺检定、校准作业指导书生效日期5.5数显千分尺的示值重复性：在相同条件下重复测:U:5次分别读数，示伉重复性以最大与最小读数的差伉确定。数显千分尺任意位置的数值漂移：在测:W:范围内的任意位置锁紧测微螺杆，观察lh內显示值的变化不超过规定

3、值。两测S:而的平行度：见图2阁2依次将4块厚度差1/4螺距的平行平晶放入两测:U:而间，使两测:W:而与平行平晶接触，转动棘轮机构,并轻轻转动平晶，使两测M而出现的干涉环和干涉带数目减至最少。分别读取两测:U:而的上的干涉纹数，取两测S:而上的干涉条纹数目之和与所用光的波长值的计算结果作为两测S而的平行度。利用平行平晶组屮每一块平行平晶按上述程序分别进行检定，取其中最大值作为受检千分尺的两测ft而平行度测ft结果。图3分别用0-100mm之间的量块置于平板上，用千分尺分别测量量块，其读数值与量块尺寸之差来确定，使用过程中以1级为±4um来检定，数显千分尺以±2um來检定。■文件编号

4、版本页数文件名称千分尺检定、校准作业指导书生效日期项目/范围允许误差：校准：测微螺杆的轴向窜动和径向摆动：<0.01mm测力：(5-10)N微分筒锥血的端时与固定套管毫米刻线的相对位界.：压线<0.05mm离线<0.10mm可调节固定套管位畀外径千分尺测景面的平面度：<0.6um可调节闹定套管位買壁焯千分尺、板焯千分尺测萤面的平面度：<1.5um数玆外径千分尺测虽面平面度：<0.3um数显外径千分尺的示值《复性：<1Um数显外径千分尺任意位買时数值漂移<1Um/h外径千分尺/数显外径千分尺、两测蛍囬的平行度：0一50mm、50—100mm、100-150mm2、3、4um/1.5、2

5、.0、2.5um150一200mm、200—250mm、250—300mm5、6、7um/3、3.5、4um外径千分尺/数显外径千分尺示值偏差：0一50mm、50—100mm、100-150mm5、6um/2、3、3um150一200mm、200—250mm、250—300mm7、8、9um/zl、5um3应用标准：千分尺检定规程：JJG21-20084校准的仪器及编号：量块(SBLY009)大理石平台(SBBT005)刀口尺(SBLY011)平行平晶(SBLY012-015)5地点：本厂C酮室6基本维护指引：1.禁止碰伤各测量而或其他部位，不要与刀具或工具一起存放。2.使用千分尺时

6、，必须用测力装置，禁止用微分筒进行测量，以免影响精度。3.使用完毕后必须用干净布块清洁干净，以免水渍、油渍、灰尘会损害千分尺表而10校准检定原始报告编号：YDR-244A制订/日期审核/曰期批准/口期