寒假光驱厂实习报告与寒假公司会计实训总结合集

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1、寒假光驱厂实习报告与寒假公司会计实训总结合集寒假光驱厂实习报告80%或接近80%。j记入必要的事项：a标题（目的）。b数据收集期间。数据合计（总检查、不良数、不良率…等）。d工程别。e作成者（包括记录者，绘图者…）。绘图注意事项:1）柏拉图之横轴是按项目别，依大小顺序由高而低排列，项排在最后一位。2）柏拉图之柱形图宽度要一致，纵轴与横轴比例为3：2O3）纵轴最髙点为总不良数，且所表示之间距离一致。4）次数少的项目太多时，可考虑将后几项归纳成项；其他项不应大于前几项，若大于时应再分析。有时，改变层别或分类的方法，亦可使分类的项目减少。通常，项目别包括其他项在内，以不要超过4〜6项为原则。5）

2、改善前后之比较时：a改善后，横轴项目别依照出现大小顺序由高而低排列。b前后比较基准须一致，且刻度应相同，则更易于比较。4、管制（1）何为管制为使现场之品质状况达成吾人所谓之“管理”作业，一般均以侦测产品之品质特性来替代“管理”作业是否正常，而品质特性是随着时间、各种状况有着高低的变化；那么到底高到何种程度或低至何种状况才算吾人所谓异常？故设定一合理之高低界限，作为吾人探测现场制程状况是否在“管理”状态，即为管制图之基本根源。管制图是于1924年由美国品管大师修哈特博士所发明。而主要主义即是。（2）基本特性：一般管制图纵轴均设定为产品的品质特性，而以制程变化的数据为分度；横轴则为检测制品之群

3、体代码或编号或年*月*日等，以时间别或制造先后别，依顺序将点绘于图上。在管制图上有三条笔直的横线，中间的一条为中心线(enterline,1),一般以蓝色之实线绘制。左上方的一条称为管制上限(upperontrol1imit,ul),在下方的称为管制下限(loerontrollimit,11),对上、下管制界限之绘制，则一般均用红色之虚线表现之，以表示可接受之变异范围；至于实际产品品质特性之点连线条则大都以黑色实线表现绘制之。(3)管制图原理：1)品质变异之形成原因一般在制造的过程中，无论是多么精密的设备，环境，其品质特性一定都会有变动，绝无法做完全一样的制品；而引起变动的原因可分为两种，

4、一种为偶然(机遇)原因，一种为异常(非机遇)原因。2)管制图界限之构成：管制图是以常分配中之三个标准差为理论依据，中心线为平均值，上、下管制界限以平均数加减三个标准差(±3。)之值，以判断制程中是否有问题发生，此即修哈特博士所创之法。(4)管制图种类：1)依数据性质分类：a计量值管制所谓计量值系指管制图之数据均属于由量具实际量测而得；如长度、重量、浓度等特性均为连续性者。常用的有：8平均数与全距管制图(x-rhart)b平均数与标准差管制图(x-ohart)中位数与全距管制图(x-rhart)d个别值与移动全距管制图(x-rmhart)e最大值与最小值管制图(l-shart)b计数值管制所

5、谓计数值是指管制图之数据均属于单位计算数者而得；如不良数、缺点数等间断性数据均属之。常用的有：a不良率管制图(phart)b不良数管制图(pnhart,又称nphart或dhart)缺点数管制图(hart)d单位缺点数管制图(uhart)2)计数值与计量值管制图之应用比较计量值计数值优点甚灵敏，容易调查真因。2、可及时反应不良，使品质稳定。所须数据可用简单方法获得。2、对整体品质状况之了解较方便。缺点抽样频度较高、费时麻烦。2、数据须测定，且再计算，须有训练之人方可胜任。无法寻得不良之真因。2、及时性不足，易延误时机。(3)管制图之绘制：介绍：计量值管制图(x-r)常用1)先行收集100个

6、以上数据，依测定之先后顺序排列之。2)以2~5个数据为一组(一般采4~5个),分成约20-25组。3)将各组数据记入数据表栏位内。4)计算各组之平均值X。取至测定值最小单位下一位数)5)计算各组之全距ro最大值-最小值二r)6)计算总平均x。x二(xl+x2+x3+・・・+xk)k二Exik(k为组数)7)计算全距之平均r：r=(rl+r2+r3+…+rk)k=4rik8)计算管制界限x管制中心线(1)二x管制上限(ul)=x+a2r管制下限(11)=x~a2rr管制中心线(1)t管制上限(ul)二d4r管制下限(11)=d3ra2,d3,d4之值，随每组之样本数不同而有差异，但仍遵循三个

7、标准差之原理，计算而得，今已被整理成常用系数表。9)绘制中心线及管制界限，并将各点点入图中。10)将各数据履历及特殊原因记入，以备查考、分析、判断。(4)管制点之点绘制要领：1)各项工程名称、管制特性、测定单位、设备别、操作(测定)者、样本大孝材料别、环境变化…等任何变更资料应清楚填入，以便资料之分析整理。2)计量值变更管制图(x-「x-r…等)其x管制图与r管制图的管制界限席宽度取法，一般原则以组之样本数(n)为参考，