54项国家标准名称及主要内容

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1、附件54项电子国家标准名称及主要内容序号计划编号标准名称性质标准主要内容代替标准采标情况120130003-T-339LED加速寿命试验方法推荐本标准规定了LED器件恒定应力加速寿命试验的程序，给出了LED器件光通维持寿命的试验方法。获取试验数据后通过数据处理可求得该产品的光通维持寿命。该标准适用于光通量慢退化失效模式的可见光LED器件。220130004-T-339LED应用产品可靠性试验的点估计和区间估计（指数分布）推荐本标准规定了LED应用产品可靠性试验的点估计和区间估计的数据处理方法，可以通过试验评估LED应用产品的平均无故障寿命。本标准适用于服从指数分布或近似服从指数分布的

2、LED应用产品的可靠性试验。本标准适用于LED应用产品的实验室试验数据处理和现场使用数据的处理。320130009-T-339功率半导体发光二极管芯片技术规范推荐本规范规定了功率半导体发光二极管芯片产品（以下简称芯片）的技术要求、检验规则和检验方法。本规范适用于功率半导体发光二极管芯片。420130011-T-339中功率半导体发光二极管芯片技术规范推荐本规范规定了中功率半导体发光二极管芯片产品的技术要求、检验规则和检验方法。本规范适用于功率半导体发光二极管芯片。序号计划编号标准名称性质标准主要内容代替标准采标情况520130005-T-339半导体光电子器件功率发光二极管空白详细规

3、范推荐该空白详细规范规定了功率发光二极管的质量保证程序、检验要求、筛选顺序、抽样要求、试验和测试方法的细节。规定了三个由低到高的质量评定类别：I类、II类和II［类；获得鉴定批准的程序；逐批以及周期的质量一致性检验要求；A、B、C和D组的划分及试验组成。包括：逐批试验项目、顺序和条件，周期试验项目、引用的标准、检验或试验要求/极限值，鉴定批准试验项目，组及对应的质量类别，A组、B组、C组检验和试验项目、引用的标准、以及检验或试验要求/极限值。620130006-T-339半导体光电子器件小功率发光二极管空白详细规范推荐该空白详细规范规定了小功率发光二极管的质量保证程序、检验要求、筛选

4、顺序、抽样要求、试验和测试方法的细节。规定了三个由低到高的质量评定类别：I类、II类和III类；获得鉴定批准的程序；逐批以及周期的质量一致性检验要求；A、B、C和D组的划分及试验组成。包括：逐批试验项目、顺序和条件，周期试验项目、引用的标准、检验或试验要求/极限值，鉴定批准试验项目，组及对应的质量类别，A组、B组、C组检验和试验项目、引用的标准、以及检验或试验要求/极限值。序号计划编号标准名称性质标准主要内容代替标准采标情况720130007-T-339半导体光电子器件中功率发光二极管空白详细规范推荐该空白详细规范规定了中功率发光二极管的质量保证程序、检验要求、筛选顺序、抽样要求、试

5、验和测试方法的细节。规定了三个由低到高的质量评定类别：I类、II类和II［类；获得鉴定批准的程序；逐批以及周期的质量一致性检验要求；A、B、C和D组的划分及试验组成。包括：逐批试验项目、顺序和条件，周期试验项目、引用的标准、检验或试验要求/极限值，鉴定批准试验项目，组及对应的质量类别，A组、B组、C组检验和试验项目、引用的标准、以及检验或试验要求/极限值。820130111-T-339电子设备用固定电容器第25部分：分规范表面安装导电高分子固体电解质铝固定电容器推荐本部分规定了表面安装导电高分子固体电解质铝固定电容器的优先额定值和特性、以及从GB/T2693-2001中选取的适用于表

6、面安装导电高分子固体电解质铝固定电容器的所有详细规范的试验一览表和检验要求。IDTIEC60384-25:2015920130110-T-339电子设备用固定电容器第25-1部分：空白详细规范表面安装导电髙分子固体电解质铝固定电容器评定水平EZ推荐本部分给出了当编写一份详细规范时应考虑的推荐性能特性，它包括对于EZ级评定水平的试验一览表和检验要求。本部分给出了制定表面安装导电髙分子固体电解质铝固定电容器的详细规范内容和规则，以及空白详细规范的格式。IDTIEC60384-25-1：2006序号计划编号标准名称性质标准主要内容代替标准采标情况1020130112-T-339电子设备用固

7、定电容器第26-1部分：空白详细规范导电高分子固体电解质铝固定电容器评定水平EZ推荐适用于导电高分子固体电解质铝固定电容器。主要内容：1一般数据、1.1推荐的安装方法（应加以说明）、1.2尺寸、1.3额定值和特性、1.4规范性引用文件、1.5标志、1.6订货资料、1.7敖行批证明记录、1.8附加内容（不作检验用）、1.9补充或提高总规范和（或）分规范中所规定的严酷等级或要求、2检验要求、2.1程序。IDTIEC60384-26-1：201011201301