用adc和片内温度传感器测温

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1、使用内置温度传感器测量温度      学习使用ADC多通道转换方式，验证温度测量的准确性，为以后的工程实践打好基础。（1）      ADC的单次与连续转换      ADC转换可以在一次转换后停止，然后再次触发后进行下一次转换；也可以是持续不断地转换下去。这个是通过设定ADC_CR2的CONT位来确定。而在ST提供的库里面，是这样来设定的：      ADC_InitStructure.ADC_ContinuousConvMode=ENABLE;（2）      ADC的扫描模式      ADC的扫描模式

2、是用来扫描一组选定的通道的，它们将会被依次转换。这个在上一份笔记中已说明过。      那么连续转换和扫描转换之间又是什么关系呢？字面上理解，似乎它们都是持续不断地转换啊。      答案是：连续转换的层次比扫描更高，它管着扫描呢。也就是说，对连续转换来说，它所谓的“一次转换”可并不是指的一个通道的转换结束，而是指的“一组”转换结束，当然，这个“一组”有可能只有一个通道而已。再说得明确一些：当ADC扫描一次结束以后，如果CONT位是“1”（设定为连续转换方式），那么将继续下一轮的转换。（3）      EOC

3、什么时候产生？      我的理解应该是每个通道（Channel）转换结束时都会发生。但这里有些问题（见下图）：      上面的说明中：该位由硬件在（规则或注入）通道组换结束时设置…其中有个“组”字，字面的理解似乎应该是指一次转换组的所有通道都结束后才置1？但如果是这样，那么又如何进行数据的传递呢？要知道，对于ADC1来说，它的多个通道只有一个用于数据何存的寄存器：ADC1->DR啊。      而这个问题在其他两个地方也没有说得清楚（见下图）：我们前面讨论了说连续转换是针对一组转换而言的，所以这里所谓的：

4、每个转换后EOC标志被设置，究竟是一组转换结束后呢还是一个通道结束后呢？不明确。而在扫描模式是这么说的（见下图）：      这里仅说到：如果设置了DMA位，在每次EOC后…，而并没有说到什么时候会有EOC产生？是所有扫描结束还是每个通道转换结束？      而关于SCAN位又有这样的说明（见下图）：注意最后的注：如果分别设置了EOCIE或JEOCIE位，只在最后一个通道转换完毕才会产生EOC或者JEOC中断。      对这一行话的理解同样会有歧义：究竟是只在最后一个通道转换完毕才产生EOC或者JEOC呢，

5、还是每个通道转换时都产生EOC或者JEOC，但是仅在最后一个通道转换完毕时的EOC/JEOC才会引发中断？      手册上说得清楚，手册不保证正确，有问题可以找英文原版……可怜我，如果汉语语法也搞不清楚，那么英语语法岂非更头大？看来非得进修个英文六级再来学啦。      还好，我们还能做实验验证。经验证，我认为应该是每次通道转换时都有EOC产生，并且这个EOC可以触发DMA事件。但是毕意自己验证的不能保证一定理解正确，所以啰啰喽喽写了这么多。      （4）为了要使用内置的温度传感器，得要先打开温度传感器

6、（同时也打开了内部REF测量通道），数据手册上说是设置ADC->CR2中的TSRVEFF位。这个位当然可以写个代码自行设置，不过我们现在是用库编程，那就遵守纪律，找到相应的库函数吧。      打开stm32f10x_adc.c，用尽一切手段找，在这里（见下图）：根据上次的解读，我们已知FunctionalState相当于是一个“位”变量，它只能取Enable和Disable两个值之一。所以，main.c中加入这样一行：      ADC_TempSensorVrefintCmd(ENABLE);  //开启

7、温度传感器及Vref通道（5）选定待转换组中的通道，并设定转换顺序，转换时间    ADC_RegularChannelConfig(ADC1,ADC_Channel_16,2,ADC_SampleTime_239Cycles5);  /*设置ADC1的Channel15通道在转换序列中第 2个进行转换，转换时间设定为239.5个周期  */      这一段中的第一个参数是指定由ADC1转换器转换，因为温度传感器接在这个转换器的第16通道上，第二个参数显然就是选定第16通道了，而第三个参数2是说这个通道第二

8、个转换；第四个参数是设定采样时间。      说到采样时间，又要多说几句了。      ADC1转换器的时钟是ADCCLK，这个时钟是由APB2时钟经过分频器而得到的，由于代码中没有对预分频器进行设置，所以用默认值2分频，所以ADCCLK的时钟是36M。      对于温度传感器的使用，数据手册中这么样写（见下图）：看第2条，即要求采样时间大于2.2us，那么我们只能取最大的采样周期239.5了。因