AFM操作使用说明

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1、AFM操作使用说明智能成像模式（ScanAsystMode）一、开机1.确认实际电压与系统设定的工作电压相符合，确认所有的线缆都已正确连接。确保操作环境符合要求且防震台处于正常工作状态；2.打开计算机主机、显示器和光源；3.打开控制器。注意：对于运行WindowsXP的系统，开机顺序必须是先打开计算机主机，再打开控制器。二、安装样品和探针1.安装样品：将固定在铁片上的样品放入带有磁性的样品台中心，使其吸住铁片和样品。然后通过搬动进动开关【up】/【down】来升起和降低探针的高度。通常应使样品的上表面不明显高于Head上的

2、支点顶部，以防止安装Holder时探针直接压到样品表面上而损坏探针；2.安装探针：将探针安装在Holder上。安装时，把Holder翻转放在桌面上，轻轻下压，使里面凹槽内的金属片微微上翘。随后装入探针，并松手使金属片压紧探针。安装完探针后将Holder卡在Head突出的支点上摆放平稳，然后拧紧Head背面的固定旋钮。注意：在升降样品台的高度前，一定要先抬起显微镜镜头，以免在升降过程中撞到镜头。三、启动软件1.双击桌面【Nanoscope】软件图标；2.进入实验选择界面，根据实验方案，按照界面所示进行选择，第一步选择实验方案

3、【ScanAsyst】，第二步选择实验环境【ScanAsystinAir】，第三步选择实验具体操作模式【ScanAsystinAir】；3.结束上述步骤后，单击界面右下方图标【LoadExperiment】，进入具体实验设置界面。四、调节激光1.在软件中左侧点击【Setup】，找到图像窗口；2.调节光学显微镜镜头位置，自上而下调节可分别看清探针、样品3.聚焦到针尖下的样品表面（找一个脏点聚焦；如果样品很干净，找样品边缘聚焦）,使样品成像清晰；4.将基座右侧的【up】/【down】开关拨到【down】，使探针逐渐接近样品表面

4、，待悬臂基本清晰后停止；注意：一定不能完全清晰，否则会撞到针尖。5.使用Head下部两个旋钮移动Head位置，使探针位于样品上所要测量的区域；6.使用基座上的位置调节旋钮调节显微镜视场，找到激光光斑；7.使用Head上部两个方向的激光调节旋钮将激光光斑打在悬臂前端。五、调节四象限检测器1.调整Head后部反光镜，使【SUM】值最大；2.将基座左侧的模式选择键打到【AFM&LFM】上，此时基座前面左上角的指示灯显示红色；3.调整Head上部的两个四象限旋钮，使基座前面LCD显示屏上的【VERT】显示为0，【HORZ】显示为0

5、。注意：偏差都要小于±0.5，尽量接近于0。六、初始化扫描参数1.将【ScanSize】设置为0；2.将【ScanAngle】设置为0；3.将【Xoffset】和【Yoffset】设置为0。4.点击左侧的【Engage】，等待探针到达样品表面。当听到“滴”的一声并且电脑屏幕下方显示Tip：theengaged，表示进针完毕。七、扫描图像1.调节【Scansize】（扫描范围），选择合适的扫描范围。对于大部分样品来说，智能模式可以自动优化成像参数得到质量良好的图像。2.调节【Scanrate】（扫描速率）。随着【Scansi

6、ze】（扫描范围）的增大，扫描速率须相应降低。最大分辨率是1024，最小分辨率是128，但是通常选择256或512。注意：选择范围是要从大逐步缩减到小范围，不要动作过大，以免使扫描管由于剧烈变化而失灵。扫描范围：J管：125um*125um*5um；E管：10um*10um*2.5um。八：保存图像1.点击软件中Capture菜单中【Capture】存图，【Capturefile】设置拍照存储路径。九：退针1.点击【Withdraw】停止扫描并使探针远离样品表面，至少3次点击【Withdraw】；2.将【up】/【down

7、】开关拨到【up】使探针远离样品表面后取出Holder，随后取下样品。十：关机1.关闭软件界面；2.关闭控制器；3.关闭计算机、显示器和光源；注意：对于运行WindowsXP的系统，开机顺序必须是先打开计算机主机，再打开控制器。4.登记使用记录。轻敲模式（TappingMode）一、开机1.确认实际电压与系统设定的工作电压相符合，确认所有的线缆都已正确连接。确保操作环境符合要求且防震台处于正常工作状态；2.打开计算机主机、显示器和光源；3.打开控制器。注意：对于运行WindowsXP的系统，开机顺序必须是先打开计算机主机，

8、再打开控制器。二、安装样品和探针1.安装样品：将固定在铁片上的样品放入带有磁性的样品台中心，使其吸住铁片和样品。然后通过搬动进动开关【up】/【down】来升起和降低探针的高度。通常应使样品的上表面不明显高于Head上的支点顶部，以防止安装Holder时探针直接压到样品表面上而损坏探针；2.安装探针：将