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1、一、实验目的1,掌握TTL与非门主要参的测试方法；2,掌握TTL与非门传输特性的测试方法;二、实验仪器1,数字实验装置—台.2,示波器一台;3,数字毫伏表一只;4,uA电流表一只;5,74LS00一片;三、实验原理（一）、与非门艷功能二输入端F=AB_四输入端F=ABCD（二）、TTL与非门主要参数1,空载导通电源电流IE1；IE1是与非门处于开启状态下流过电源的电流，其人小标志着开态门功耗P1的大小,Pl=VccIElo（一般指标:IElWlOmA）。2,空载截止电源电流IE2；IE2是与非门处于关闭状态下流过电源的电流，英关闭门
2、的功耗P2=VccIE2,与非门静态功耗：P=（P1+P2）/20（一般指标：IE2W5mA）。3,输入短路电流Iis：输入短路电流Iis是被测输入端接，其余输入端悬空时，灌进前级门的负载电流，，Iis太人将影响前级门的扇出系数（一般指标：IisW1.5mA）。4,输入漏电流liH是寄生品体管效应产生的输入电流。（一般指标:IiH^70mA）o5,输岀高电平Voh；输出高电平是电路的关态输出电平，即电路输入端有一个以上低电平时的输出值（一般指标:Voh>3.2V）o6,输出低电平Vol；输出低电平是电路的开态输出电平，即所有输入端接
3、高电平时的输出电平值,（一般指标：VolW（）.35V）。7,开门电平Von；开门电平Von是指输出为额定低电平吋的最小输入电平。（一般指标:VolW1.8V）。8，关门电平VOFF;开门电平VOFF是指输出为额定高电平的90%吋的输入电平。(一般指标:VoffNO.8V)。9,扇出系数N；扇出系数N是指电路在正常工作条件下带同类门的个数，它反映了门电路带负载的能力。N二IL/Iis；其'I*IL：门电路开态时的负载电流，Iis：输入短路电流，(一-般指标：NM8)。10,平均延迟时间tpd；平均延迟时间tpd是衡量门电路开关速度的
4、参数，tpd=(tpl+tp2)/2,其中,tpl：导通延迟时间,tp2：延迟时间，(tpdW30ns)四、实验内容(一)、与非门的逻辑功能测试；采川二输入与非门74LS00进行逻辑功能测试。测试结果填入表l-lo(二)、与非门主要参数测试：电源电压Vcc=5Vo1,空载导通电源电流IE1：(1)测试条件：输入端全部悬空，输出端空载。(2)测试电路如图11；scIE1ABY表1-1图1_12,空载截止电源电流IE2：(1)测试条件：任一输入端低电平(0)输出悬空。(2)测试电路如图1-2；图1-21,输入短路电流Iis：(1)测试条
5、件：被测输入端通过电流表接地，其余输入端和输出端悬空。■⑵测试电路如图1-3；图1-32,输入端漏电流IiH：(1)测试条件：被测输入端通过电流表接V®其余输入端接地。(2)测试电路如图1-4；IiHscH1图1-43,输出高电平Voh,输出低电平Vol,开门电平Von与关门电平Voff的测试：(1)测试条件：测空载传输特性：输出空载，任一输入端接可调电压，其余输入端悬空。(2)测试电路如图1-5,利用10K电位器调节输入电压值。实测电压传输特性曲线,并从曲线上读出VOH、VOL、VON、VOFF,实测数据填入表1-2中。图1-5表
6、1-2Vi(V)0.30.51.01.11.21.31.41.52.0Vo(V)6,扇出系数N：(1)测试条件：所有输入端悬空。(2)测试电路如图1-6；weRW-A4&D—图1-67,平均传输延迟时间tpd：将74LS00其中三个与非门按下图连接构成环形振荡器。图1-7该振荡器输岀脉冲周期T=2(tpdl+tpd2+tpd3),tpdl=tpd2=tpd3,tpd=t/6,t=l/f,用频率计或示波器测量其振荡器的频率f,由此计算tpd。五、实验报告要求1，整理实验数据，分析实验结果。2,列出二输入与非门的真值表。3,画出所测与非
7、门的电压传输特性
8、11
9、线。4,根据实验测得的IE1、IE2,计算与非门的静态平均功耗。实验二、CMOS集成逻辑门的测试一、实验目的1,了解和掌握CMOS集成逻辑门的特点及使用规则；2,验证CMOSH电路的功能。二、实验仪器1,万用表1只2,74LS00、74LS02各一片三、预习要求如用发光二极管指示CMOS电路的输出状态（发光二极管的工作电流1=1OmA,管压降V^1.8V）,电路应如何连接？四、CMOS逻辑门的特点与使用规则1,主要特点（1）微功耗,一个单门功耗仅为0.01^0.luw；（2）电源适应范围宽3〜8V；（3）输岀
10、摆幅人，接近于Vdd；（4）输入阻抗大，其值为10~Q；（5）扇出系数大,可达50左右;2,使用规则（1）输入端a,不使用的输入端不能悬空，应根据逻辑关系或接Vdd或接Vss；b,CMOS集成电路在未接电源VddZ前，不允许输入信号；
