材料现代分析与测试技术论文

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1、材料结构分析结课论文学院,:物理化学学院专业班级:应化1001姓名:学号:311013030110材料现代分析与测试技术论文随着经济的迅速发展,人们对材料的需求日益增加。为了满足这些现代技术对材料的需求,世界各国都非常重视功能材料的研宄和开发。功能材料作为现代技术的标志,引起了各国的关注,己经成为材料科学中的一个分支学科,并在不同程度上推动或加速了各种现代技术的进一步发展。木篇综述简单介绍了功能材料的材料是现代科技和国民经济的物质基础。一个W家生产材料的品种、数量和质量是衡量其科技和经济发展水平的重要标志。因此,现在称材料、信息和能源

2、为现代文明的三大支柱,又把新材料、信息和生物技术作为新技术革命的主要标志。材料的发展虽然历史悠久,但作为一门独立的学科始于20世纪60年代。材料的研宄和制造开始从经验的、定性的和宏观的向理论的、定量的和微观的发展。20世纪70年代,美国学者首先提出材料科学与工程这个学科全称。1975年美国科学院发表的《材料与人类》专著屮[1],对材料科学与工程定义为:探索和应用材料的成分、结构、加工和其性质与应用之间关系的一门学科。功能材料的概念是美国MortonJA于1965年首先提出来的。功能材料是指具有一种或儿种特定功能的材料,如磁性材料、光学

3、材料等,它具有优良的物理、化学和生物功能,在物件中起着“功能”的作用[2]。20世纪60年代以来,各种现代技术的兴起,强烈刺激了功能材料的发展。为了满足这些现代技术对材料的需求,世界各国都非常重视功能材料的研究和开发。同吋,由于固体物理、固体化学、量子理论、结构化学、生物物理和生物化学等学科的飞速发展以及各种制备功能材料的新技术和现代分析测试技术在功能材料研究和生产中的实际应用,许多新功能材料不仅已经在实验室中研制出来,而且已经批量生产和得到基本性能、特点和分类及其发展现状和发展趋势。(1)X射线单晶体衍射仪(X-raysinglec

4、rystaldiffractometer,简写为XRD)原理:根据布拉格公式:2dsinG=X可知,对于一定的晶体,面间距d—定,有两种途径可以使晶体面满足衍射条件,即改变波长X或改变掠射角0。X射线照射到某矿物晶体的相邻网面上,发生衍射现象。两网面的衍射产生光程差△L=2dsin0,当AL等于X射线波长的整数倍nA(n为1、2、3-.,X为波长)时,即当2dsine=nX时,干涉现象增强,从而反映在矿物的衍射图谱上。不同矿物具有不同的d值。X射线分析法就是利用布拉格公式并根据x射线分析仪器的一些常数和它所照出的晶体结构衍射图谱数据,

5、求出d,再根据d值来鉴定被测物。主要功能:收集晶体衍射数据以及进一步确定晶体结构,过程主要包括:挑选样品,上机,确定晶胞参数,设定参数进行数据收集,数据还原,结构解析。(2)光学显微镜(OpticalMicroscopy,简写为OM)基本原理:显微镜是利用凸透镜的放大成像原理,将人眼不能分辨的微小物体放大到人眼能分辨的尺寸,其主要是增大近处微小物体对眼睛的张角(视角大的物体在视网膜上成像大),用角放大率M表示它们的放大本领。因同一件物体对眼睛的张角与物体离眼暗的距离有关,所以一般规定像离眼暗距离为25厘米(明视距离)处的放大率为仪器的

6、放大率。显微镜观察物体时通常视角甚小,因此视角之比可用其正切之比代替。显微镜放人原理光路图显微镜由两个会聚透镜组成,光路图如图所示。物体AB经物镜成放大倒立的实像A1B1,A1B1位于目镜的物方焦距的内侧,经目镜后成放大的虚像A2B2于明视距离处。主要功能:把人眼所不能分辨的微小物体放大成像,以供人们提取微细结构信息。(3)扫描式电子显微镜(scanningelectronmicroscope,简写SEM)工作原理:SEM的工作原理是用一束极细的电子束扫描样品,在样品表面激发出次级电子,次级电子的多少与电子束入射角有关,也就是说与样品

7、的表面结构有关,次级电子由探测体收集,并在那里被闪烁器转变为光信号,再经光电倍增管和放大器转变为电信号来控制荧光屏上电子束的强度,显示出与电子束同步的扫描图像。图像为立体形象,反映了标木的表面结构。为了使标木表面发射出次级电子,标本在固定、脱水后,要喷涂上一层重金属微粒,重金属在电子束的轰击下发出次级电子信号。主要功能:获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息,如形貌、组成、品体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。采用不同的信息检测器,使选择检测得以实现。如对二次电子、竹散射电子的采集,可得到有关物质微观形貌的信息;对X射线的采集,

8、可得到物质化学成分的信息。正因如此,根据不同需求,可制造出功能配置不同的扫描电子显。材料是人类赖以生存和发展的物质基础,是工业革命的先导,关系到国民经济、社会发展和国家安全,是国家综合实力的重要标志。高分子材料是现代工业

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