非晶硅微晶硅叠层电池中P型微晶硅材料及前后界面的研究

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时间:2019-05-23

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1、摘要摘要硅薄膜材料和电池研究已经成为热点,开发低价、稳定和高效率的太阳电池是光伏研究的目标。微晶硅薄膜电池克服了非品硅薄膜电池光致不稳定的缺点,而且与非晶硅电池组成叠层电池.既能进一步拓展光谱响应范围,提高电池效率和稳定性,又能更进一步降低成本。本文叙述了采用VHF—PEcvD技术,制备P型微晶硅(uc—si:H)薄膜材料及其在微品硅太阳电池上的应用,并就非晶硅/微晶硅叠层太阳电池进行了实验研究。主要做了以下几方面的工作:1.P型微晶硅材料特性和沉积工艺的研究随着氢稀释率的提高,材料从非品向微晶转变;提高VHF功率,也可使材料晶化率增加;适当的反应气压既可

2、提高薄膜的均匀性,又可改善薄膜的电学特眭;硼掺杂可以提高材料的电导率,另一方面,硼又有抑制材料品化作用。采用光发刳谱技术(opt{calemiss{0nspectra,0Es)研究p型微晶硅材料的生长动力学过程。提高氢稀释和等离子体功率都可以使等离子体中原子氢的含量增加,S州+的含量减小,siH+和原子氢的比值也减小,获得的材料品化率得到提高:提高反应气压,等离子体中原子氢、siH+的含量,以及siHl和原子氢的比值都减小,获得的材料电导率先增大后减小;硼掺杂对等离子体影响是,随着硼掺杂浓度的提高,等离子体中si旷和原予氢的比值减小,但是由丁硼抑制品化的作

3、用,材料品化率随硼掺杂浓度的提高而减小。采用双层结构的p—ucsi:H,首次系统研究了分别调控两层的晶化率、掺杂浓度与厚度,来达到品化和掺杂效果分别完成、最终合成~致达到高电导、适当晶化率同时得以满足的p—uc—si:H,为随后微晶硅有源层的生长提供良好晶化基础。通过这种方}上,在厚度小于30nm情况下,电导率大于10⋯s/cm,光学带隙大于2.OeV,激活能小于O.06eV,可见光区透过牢大于80%。pucsi:H的晶化率从~20%提高到~j0%,并H可以通过第一、二层的凋制,滴节薄膜晶化率。2.从器件的角度,进一步研究了P型微晶硅材料特性及其前后界面对

4、微晶硅太阳电池的影响微晶硅I层是在作为窗口层的P层上沉积的.p—uc—si:H的晶化率对微晶硅I层生长起始阶段非晶孵化层有很大影响。采用双层结构的p—ucsi:I{层,微品硅I层的非晶孵化层厚度减小,P/I界面得到改善。摘要采用Raman谱技术,首次观察到p—ucSi:H层的微结构对在其上沉积的微品硅I层结构没有影响,主要影响的是微晶硅电池的P/I界面结构和特性。首次提出对P/I界面进行20秒氢处理,可以改善界面特性,电池的短路电流密度和填充因子都可获得大幅提高。还研究了znO/P界面对微晶硅电池性能的影响,沉积p—uc—s:H层之前先对zno表面进行20

5、秒氢处理,可阻降低znO的方块电阻。氢等离子处理之后,保持辉光连续,加入硅烷、硼烷等反应气体沉积双层结构p—pc—s:H层,这样可以改善znO和D一Ⅱc—Si:H层之间的接触特性。首次采用光发射谱(0盼)技术,研究这个过程中等离子体发光峰的变化,经过30秒的不稳定期后,等离子体达到稳定,siH+和原了氢比值在o.75左右;同时发现绝缘衬底和导电衬底对等离子体状态有不同的影响,从而导致了在它们上面沉积的材料结构和特性不同。经过系列优化研究,采用MocvD技术制备的znO背反射层与Ag/Al金属背电板形成复合背反射电极,微晶硅薄膜太阳电池的转换效率进一步得到了

6、提高,达到了9.1996(voc—O.55v,Jsc=26.53mA/cm2,FF-06296)。3.非晶硅/微晶硅叠层电池中NP隧穿结特性的研究在非品硅/微晶硅叠层太阳电池中,实现欧姆接触的顶电池N层和底电池P层都是微晶硅,形成NP隧穿结。调整它们的厚度可以改善NP隧穿结特性。通过实验确定了,非晶硅顶电池的N层厚度约25nm,微晶硅底电池的P层厚度约27nm时,非晶硅/微晶硅叠层太阳电池的效率最大。对NP界面进行20秒的氢处理,氢等离子处理之后,保持辉光连续。加入硅烷等气体,沉积后续层,可以提高电池效率。4.非晶硅/微晶硅叠层太阳电池电流匹配的研究对于非

7、晶硅/微晶硅薄膜叠层电池来说,电流匹配丰要是电池吸收层厚度的匹配。通过研究,初步确定了非晶硅顶电池的厚度为250nm,微晶硅底电池的厚度2800nm,顶电池的N层采用非晶干¨微晶硅双层结构(改善NP结隧穿特性,同时小影响非晶硅顶电池)。采用znO背反射层,小面积非晶硅/微晶硅叠层太阳电池的效率为11.37%,(voc=1.38v,Jsc=1263IILA/cm2,FF=O.6502);10xlOcm2非晶硅/微晶硅叠层组件的效率为9.72%(Voc=13.36v,Jsc=10.29iIlA/cm2,FF=0.7073)。关键词:VHF—PECVD,P型微晶

8、硅,微晶硅电池,界面,非晶硅/微晶硅叠层AbstractABSTR

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