Teststand应用实例3

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1、练习三:顺序测试并行测试自动协调并行测试目标:在实际应用中,为了提高测试效率,节省测试时间,往往需要同时进行多个DUT的并行测试,在Teststand环境中,只需要轻松配置,即可实现并行测试及自动协调并行测试。图1完整练习硬件平台:任意波形发生器PXI-5421,示波器PXI-5122,矩阵开关模块PXI-2532,接线盒TB-2641,接线盒SCB-264X,数字万用表PXI-4071,1KOhm电阻两个(电阻A,电阻B)。硬件连接:1.连接TB-2641接线盒与SCB-264X接线盒:一端连接在TB-2641接线盒的J3排线端,一端连

2、接在SCB-264X接线盒LowerJ3排线端。2.在SCB-264X上安装电阻:将电阻A两端分别连接在SCB-264X接线盒的B.1和B.2;将电阻B两端分别连接在SCB-264X接线盒的B.5和B.6。3.在SCB-264X上连接PXI-4071:将PXI-4071的正极(红色)连接在SCB-264X接线盒的B.3;将PXI-4071的负极(黑色)连接在SCB-264X接线盒的B.4。4.直连信号发生器和示波器。将PXI-5421Arb的CH0直接连接到PXI-5122Digitizer的CH1上。图2系统架构顺序测试操作步骤:1.启

3、动Teststand,打开练习二所保存的resistortest.seq文件,选择File>>saveas将resistortest.seq另存为Ex3sequential.seq。1.按照下面步骤确认Teststand中的执行模式为顺序执行。a.在菜单栏中选择Configure»StationOptions。b.选择Model标签,在StationModel中选择SequentialModel.seq。c.保存设置。2.修改resistortest配置,使其可以自动切换测试不同DUT。a.选中resistortestb.在StepSet

4、tings中,选择Properties选项卡。c.选择Switching,在Router(s)toConnect中填入:"RouteGroup"+Str(RunState.TestSockets.MyIndex),如下图所示。d.在ConnectionLifetime下拉框中选择Step项,如下图所示。图3配置resisitortest的switch设置3.插入一个Pass/FailTest,并重命名为frequencytest。如下图所示。图4插入Pass/FailTest测试序列1.选择FrequencyLimitTest.vi为该项

5、测试指定的VI模块。a.在StepSettings标签下选择Module。b.点击按键,从SupportFiles文件夹路径中选择FrequencyLimitTest.vi。弹出对话框,点击确定。c.VI加载后,窗口的右侧有该VI的图标,并同时显示出输出端子TestPassed?,点击表达式对话框按键。图5为Pass/FailTest指定测试VId.在弹出的表达式对话框中选择Step.Result.PassFail选项,点击Insert按键确定。图6使用函数表达式对话框1.在Sequences面板中鼠标右键单击,选择InsertSeque

6、nce新建一个序列,命名为resistortestseq,如下图所示。图7新建一个测试序列1.将主序列中的resistortest拖到resistortestseq序列中,并在该序列中加入延时单元wait。a.如下图所示进行拖动。按住鼠标左键将resistortest拖到Sequences面板中的resistortestseq上(保持鼠标按住不放),待左侧序列面板自动切换到resistortestseq序列时,再将resistortest拖回到该序列的main部分,最后释放鼠标按键。图8将主序列中的测试步骤拖到新序列中a.在resisto

7、rtest步骤下方右键单击,选择InsertStep>>Synchronization>>Wait,如下图所示。图9给序列添加延时单元Waitb.配置Wait。在WaitSettings中选择TimeInterval,在SpecifytheAmountoftimetowait(inseconds)中写入数字5,表示等待5秒,如下图所示。图10配置Wait1.在resistortestseq新序列中加入For循环。a.在Main上右键单击,按照下图添加For循环。图11给序列中加入For循环b.将resistortest与Wait拖入到Fo

8、r与End之间,如下图。图12序列界面1.配置For循环次数。为了做到这一点,需要创建一个局部变量。a.在序列中选中For,在StepSettings中选择ForLoop选项卡,点击Expre

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