xrf原理-天瑞edx 2800

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1、1.什么是XRF?XRF:X射线荧光光谱分析(XRayFluorescence)　　人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—RayFluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。　　一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集

2、到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级X射线被称为X射线荧光.　　利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为11号元素（Na）到92号元素（U）。2.X射线荧光的物理原理：X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。　　X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱离原子

3、的束缚，释放出来，电子的逐放会导致该电子壳层出现相应当电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子（如：L层）会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应当电子空位。由于不同电子壳层之间存在着能量差距，这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来，不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性。这一个过程就是我们所说的X射线荧光（XRF）。X射线的波长　　元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：　　λ=K(Z−s)−2　　式中K和S是常数。X射线的能

4、量而根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光具有的能量为：　　E=hν=hC/λ　　式中，E为X射线光子的能量，单位为keV；h为普朗克常数；ν为光波的频率；C为光速。　　因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。3.X射线荧光应用及分析a)X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。b)

5、每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外，还与这种元素在样品中的含量。c)根据各元素的特征X射线的强度，也可以获得各元素的含量信息。这就是X射线荧光分析的基本原理。4.X荧光与其它方法比较优点:a)分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。b)X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位

6、的测定。c)非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。d)X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。e)分析精密度高。f)制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。缺点：a）难于作绝对分析，故定量分析需要标样。b）对轻元素的灵敏度要低一些。c）容易受相互元素干扰和叠加峰影响。5.X荧光分析仪的分类不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一

7、元素的特征X射。线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF)如下图：EDX2800天瑞仪器成立18年来一直致力于X荧光光谱仪的研发、生产与销售，研制的X荧光光谱仪已广泛应用在电子电气、贵金属（金、银、铂、钯等）、水泥、钢铁矿业、镀层厚度等行业，以及商检、科研等领域。在RoHS指令颁布实施后，迅速成为电子、电气行业中RoHS检测的佼佼者，备受企业青睐。性能特点专业RoHS检测，亦可用于镀层检测和全元素分析内置信噪比增强器可有效提高仪器

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