麦克风失效分析流程

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1、麦克风失效分析流程1.模拟麦克风(ZTA4802)(1)分析步骤分析步骤如下图所示:歼盖否是5enS0«^rifl^

2、t65ertsori图1模拟麦克风失效分析流程(2)常见的频谱类型类型1多为膜破,类型2—般为壳子碰到Sensor,或是膜有粘黏,但是在ZTS6011BV有出现由于particle在膜上导致这种现象。FPTSpectru*lorntorm>20*loo-lo-20-30w-50-60-70-80(AapflData

3、—Ch2203050100200300SOTlk2k3k5k10k20kFrequencyOfx)图2不良品频谱类型1PFTSptclruBMomtor

4、-A8p-fl120WIj1305020030050)Frtqntncy(Hx)110图3不良品频谱类型21.数字麦克风(ZTA4901_zc)(1)不良现象列举目前DMIC主要是ZTS6071,ZTS6031,ZTS6032这三种,遇到的不良问题为:1.Crack现象有这几种:ASIC异常,IDD偏大,一般都大于1mA(无CLK时也偏大很多),结特性异常(但是看打线没有问题),无法进测试模式,CLK无法进入,DATA无输出(有结特性),不稳定(高温,摔打都有可能导致现象发生改变);2.点胶这个的现象跟Crack类似,需要通过批次來区分(Crack为较早的扌士次),且ASIC上有黑

5、胶,用热风枪吹黑胶会引起现象发生改变;3.膜破ZTS6071为振动导致;ZTS6031,ZTS6032是吸嘴吸破,表现为无声或声音小;4.粘黏这个一般是SMT时助焊剂过多导致膜与背板发生粘黏(ZTS6431则是由于水残留),但是膜被吸破,且残留较多时也会粘黏,表现为无声或杂音;5.金属壳碰到Sensor这个在ZTS6031,ZTS6071比较容易发生(Sensor离金属壳太近),ZTS6032金属壳较大,则不会出现,这个的现象为Preamp输出直流电压不稳定,噪底参考图7,移动金属壳后会恢复正常,表现为声音小,杂音。(2)分析步骤数字麦克风结构较复杂,可大概分为儿个部分:1.Sen

6、sor,2.Preamp,3.Gainstage,4.ADC;首先需要确认不良品的现象(杂音,无声),在根据不同的现象进行下一步分析。A.杂音过大这类不良品,噪声都是偏大很多的(大于-75dBFS),按照频谱有4类比较常见:类型1,这种多为1.8VDD时工作异常,VDD电压调高后则会恢复正常,且IDD电流(无CLK和有CLK)均正常;若IDD偏大,则需要确认是否有点胶,或者是有crack风险的批次。FRXZ•20・30•5010203050100200301500IkZk3k5k10k20kFrtgncyOU)类型3,类型2,这类是由于Vbias电压较高吋,漏电导致噪声偏大,调低V

7、bias电压后可回复正常(这个问题在较早的批次有可能出现,新的批次Vbias设置为10V,基本不会有此问题)FFTWpxQp102030$0100200900900Ik2k3kSk10k.*OU)图6类型3类型4,这种是Sensor漏电的现象,多数为金属碰到Sensor,或是粘黏;』FFTSpectrumMonitorXHj・YdBV・FFTSptctrubn-D册[刃一化♦30201WindowFltlTop图7类型4其他类型,需要一步一步确认导致噪声变大的原因,流程如下:short_micin(preampin)fshort_preo-*short_ampout(gainsta

8、geout)若short_micin后噪声正常,则为Sensor异常导致噪声变大,需确认Sensor是否有粘黏或异物;若short_micin后噪声仍为异常,short_preo后噪声正常,则Preamp异常;若short_preo后噪声仍为异常,short_ampout后噪声正常(此时设置onlyADCwork),则gainstage异常;若short_ampout后噪声仍为异常,则ADC异常。设置方法:Short_micin:bit29,bitl5,bitl4,bitl3为1;Short_preo:bit29,bit5为1;Short_ampout(onlyADCwork):b

9、it29,bit28,bit27,bit6为1。B.无声(小声)或灵敏度偏低1.量测结特性,若有异常则要确认是否为crack风险批次或有点胶;2.加上VDD和CLK后,量测DATA波形是否正常,若不正常则要确认是否为crack风险批次或有点胶;3.测试Preamp输出电压(设置bit29,bit27,bitl为1),在Selectpin测其直流电压(正常为0.7V左右)是否正常,若偏大很多,则为粘黏;若直流电压正常,则需要看一下94dBSPL声压时的输出信号是否正常,

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